Aides et optimisations pour cartes existantes et nouveaux designs "Design for testability" (DfT)

• Identifier et eliminer defaults de design concernant la testabilite ou pour reduire les temps de test
• Aide pour placer les points de test
• Integration de nouveaux technologies de test (JTAG [boundary-scan], test de cluster & tests fonctionels)
• Faisabilite et realisation de programmation de composants sur la carte "on-board"
• Possibilite de adaptions particulieres (Fine Pitch, Clou rigid, bead probes,...)
• Choix de composants
• Verification des designs avant de geler les donnees